电子设备高低温测试设备

电子设备高低温测试设备主要用于检测材料在各种环境下性能反应的设备及试验各种材料耐热、耐寒、耐湿、耐干、等性能反应。适合电子、电工、电器、手机、通讯、仪表、车辆配件、塑胶制品、金属、光电、化学、建材、医疗、航天等行业产品及半成品检测质量之用。

电子设备高低温测试设备技术参数:

1.标准型号和尺寸（也可按客户要求生产）（单位:mm）：

型号 LQ-GD-80 内箱尺寸:W×H×D 400×500×400

型号 LQ-GD-150 内箱尺寸:W×H×D 500×600×500

型号 LQ-GD-225 内箱尺寸:W×H×D 500×750×600

型号 LQ-GD-408 内箱尺寸:W×H×D 600×850×800

型号 LQ-GD-800 内箱尺寸:W×H×D 1000×1000×800

型号 LQ-GD-1000内箱尺寸:W×H×D 1000×1000×1000

2.温度范围：0℃/-20℃/-40℃/70℃～+150℃（风冷式）；

3.温度精度：0.01℃；

4.-温度波动度：±0.1℃；

5.温度均匀度：±1℃；

6.升温时间：平均约3℃/min，（非线性控制、空载）可做快速(QUICK)或斜率(SLOP)控制；

7.降温时间：平均约1℃/min，（非线性控制、空载）可做快速(QUICK)或斜率(SLOP)控制；

8.噪音：≤75db；

性能指标符合

电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

电工电子产品基本环境试验规程 试验B：高温试验方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)