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芯片测试冷热冲击检测实验箱

更新时间:2023-09-06
型号:LQ-TS-150A
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芯片测试冷热冲击检测实验箱是一种模拟自然界温度急 剧变化的试验设备,通过它能测试产品在温度快速变化的过程中所受到的物理和化学方面的损害,从而发现产品潜在的质量问题,进而对其改进优化。冷热冲击试验机是金属、塑料、航空、航天、橡胶、电子等材料行业*的试验设备。
  • 详细内容
品牌 其他品牌 价格区间 5万-10万
产地类别 国产 应用领域 化工,农业,电子,航天,汽车

芯片测试冷热冲击检测实验箱符合标准:

1、GB 10589-89 低温试验箱技术条件2、GB 10592-89 高低温试验箱技术条件3、GB/T5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 温度试验设备4、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 《低温试验方法Ab》5、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 《高温试验方法Bb》

6、GJB150.3A-2009装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验

7、GJB150.4A-2009装备实验室环境试验方法第3部分:低温试验

8、GJB150.5-1986温度冲击试验

芯片测试冷热冲击检测实验箱性能参数参考如下:

一、低温冲击可选择温度范围:A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃(厂家还免费配高温至150度)。

二、温度偏差:±2℃。

三、温度波动度:±0.5℃。

四、温度恢复时间:≤5min。

五、温度恢复条件:高温150℃曝露30min低温-20℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-40℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-55℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-65℃曝露30min。

六、温度冲击转移方式:采用气动驱动。

七、高温室储温的升温时间:30min (+25℃~+200℃)。

八、低温室储温的降温时间:65min (+25℃~-75℃)。

九、低温冲击试验机|低温冲击机|冲击试验机工作时的噪音:(dB)≤65( 标准规定≤65分贝不算噪音)

十、型号 内箱尺寸(mm) 外箱尺寸(mm) 功率(kw)

LQ-TS-49 W360×H350×D400 W1550×H1730×D1440 18.5

LQ-TS-80 W500×H400×D400 W1650×H1830×D1500 23.0

LQ-TS-150 W600×H500×D500 W1750×H1930×D1570 28.0

LQ-TS-225 W500×H750×D600 W1450×H2100×D1670 34.0

LQ-TS-408 W750×H800×D800 W1550×H2150×D1900 42.0

柳沁科技LQ-TS芯片测试冷热冲击实验箱示例图1

柳沁科技LQ-TS芯片测试冷热冲击实验箱示例图2

柳沁科技LQ-TS芯片测试冷热冲击实验箱示例图3

柳沁科技LQ-TS芯片测试冷热冲击实验箱示例图4

柳沁科技LQ-TS芯片测试冷热冲击实验箱示例图5


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